东莞市天测光学设备有限公司

美国QVI SNAP DM 200 一键式测量仪

QVI? SNAP?也许是您的工厂中为的品控设备之一。SNAP让复杂的测量变得容易而不失精准。只要将工件放在平台上，选择程序，然后按运行键即可。唾手可得的宽幅大照片SNAP在其宽大的78毫米视场内能够测量任何工... ...

Itaca FlexGaugeQVI新成员提供测量解决方案

成立于1996年Itaca srl公司，一直力于坐标测量仪器软硬件技术的开发。从坐标测量仪器软件发展的初期，Itaca就得到长足的发展升级，并终将处于坐标测量仪主地位的探测器、控制器、专业硬件和软件整合，直接针对计量市... ...

Itaca_FlexGauge-T16小型复杂件测量仪

ITACA柔性测量解决方案，总部在意大利都灵，从事通过触发式探针实现定制测量系统和配套软件的应用。?Itaca的flexgauge系统相比传统的测量装置，拥有性能和成本的优点。 ...

VIEW 450/600/625/800影像测量仪

Summit450/600/625/800 参数 ...

MicroLine-300桌上型半自动CD测量系统

MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。 ...

VIEW BenchMark 450 光学影像测量仪

BenchMark 450 拥有中程测量范围，高，适应于复杂封装以及注塑部件。 BenchMark 安装有桥接器，分离了X,Y轴的运动，从而不会互相造成影响，此类设计可使设备在台面运动上完整性和... ...

Benchmark XLT 可靠的大行程非接触计量系统

QVI旗下VIEW Benchmark XLT 是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统 ...

QVI光学影像测量仪 Pinnacle 250

Pinnacle250 全自动非接触式影像测量仪是一款度、高的光学非接触式三维坐标影像测量仪，适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。 ...

美国 VIEW影像测量仪Summit 450/625/800

Summit系统适用于测量有较高需求的大型部件，比如锡膏印刷屏模具、印刷电路板、柔性电路以及微蚀刻部件 summit系统测量范围大，高，450/625可以选择伺服马达驱动平台，也可以是线性马达驱动平台。s... ...

VIEW Pinnacle+Plus高的精度的尺寸测量系统

VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级 Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性. ...

VIEW BenchMark 250影像测量仪

BenchMark 250 主要技术参数 ...

VIEW Benchmark300 影像测量仪

VIEW Benchmark300 XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm ...

VIEW Benchmark300 影像测量仪

VIEW Benchmark300 XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm ...

VIEW MicroLine 自动化关键尺寸测量系统

■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm ■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm ■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm ...

线激光扫描测量仪 ShapeGrabber Ai310

注射成型塑料及医疗应用中植入物等产品重量轻、设计灵活、外形复杂。从骨科植入物和假体等到实验室设备和医疗器械，模塑件可被制成非常复杂的形状来优化其重量和强度。这些复杂的形状使成型塑料零件的一些尺寸，如果... ...

ShapeGrabber Ai810线激光扫描测量仪

注射成型塑料在汽车工业领域中得到广和泛使用 — 引擎盖下、汽车内饰以及外部车身组件。模塑件可被制成非常复杂的形状来优化其重量和强度，新型塑料让注射成型组件大行其道，金属不再是唯一的选择。但同时，这些复杂... ...

VIEW Benchmark 624 大容量影像测量仪

VIEW Benchmark 624?的移动桥式结构和光学可使被测组件某始某终保持静止状态 ...

光学二次元影像测量仪VIEW Precis 200

的Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开某发而来，采用了VMM 公司的设计和技术。 , 新款Precis 包含了很多可配置选项，使设备更加通用，耐用以及。 ...

全自动光学影像测量仪VIEW MicroLine 300美国

MicroLine 系列 主要用于测量半导体、MEMS 晶圆、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多层套刻、圆、对接误差等)量测。 MicroLine 临界尺寸测量系统设计应用于半导体和MEMS晶圆以及光掩模CD量测。Microline 系列可自动测... ...

Starlite200-300 QVI 精密影像测量仪

StarLite 200-300 系统 合您要求和预算的测量系统 StarLite 型号从 200到300 都属于精密仪器设计，更容易聚焦和工件定位.StarLite是检测和测量应用上理想的选择，例如塑料, 设备和产品, 汽车行业, 航空航天... ...